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CTT3280F测试机

CTT3280F测(ce)试系统是以量产功(gong)率半(ban)导体(ti)分立器件为目标的(de)高性(xing)能集成(cheng)电(dian)路测(ce)试机(ji),可适应于功(gong)率器件的(de)芯(xin)片测(ce)试和(he)成(cheng)品(pin)测(ce)试,主要测(ce)试品(pin)种包括MOS、IGBT、二极(ji)管、三极(ji)管等三端器件。通过与主机向连接的测试头连到针卡,实现8/16 site的并(bing)测(ce)(ce)硬件结(jie)构,主要用于多site芯片并(bing)测(ce)(ce)。

 

系统的主要特点如下:

1. 整机测试规格为1000V/10A,最大支持16 SITE全参数并行测试;

2. 常规配置1个DUT,可并测8个管芯,最大可配置2个DUT,最大可并测16个管芯;

3. GPIB接口,可与UF200等主流探针台进行联机测试;

4. 测试机电源由软件控制,具有自我保护功能;

5. 软件界面以填表方式提供用户测试参数设置界面,并提供单项参数调试功能;

6. DUT盒标(biao)配CHK板进行自检校准校验;

7. 支持ACCESS 、EXCEL 、CSV、STDF四种数据保存格式;

8. 具有防呆功能,对不具备测试条件的信息能自动报警并停止测试;

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